Mikroskop laserowy do pomiaru kształtu VK-X100K

Model

VK-X100K

Typ

Sterownik

Powiększenie obiektywu

Powiększenie na monitorze 15" 100x

―

Powiększenie na monitorze 15" 200x

Powiększenie na monitorze 15" 400x

Powiększenie na monitorze 15" 1000x

Powiększenie na monitorze 15" 2000x

Powiększenie na monitorze 15" 3000x

Zakres pomiarowy/ obserwacji

Poziomo (H): µm

Powiększenie na monitorze 15" 100x

Powiększenie na monitorze 15" 200x

Powiększenie na monitorze 15" 400x

Powiększenie na monitorze 15" 1000x

Powiększenie na monitorze 15" 2000x

Powiększenie na monitorze 15" 3000x

Pionowo (H): µm

Powiększenie na monitorze 15" 100x

Powiększenie na monitorze 15" 200x

Powiększenie na monitorze 15" 400x

Powiększenie na monitorze 15" 1000x

Powiększenie na monitorze 15" 2000x

Zakres pomiarowy obserwacji

Powiększenie na monitorze 15" 3000x

Odległość robocza: mm

Powiększenie na monitorze 15" 100x

Powiększenie na monitorze 15" 200x

Powiększenie na monitorze 15" 400x

Powiększenie na monitorze 15" 1000x

Powiększenie na monitorze 15" 2000x

Powiększenie na monitorze 15" 3000x

Apertura numeryczna (NA)

Powiększenie na monitorze 15" 100x

Powiększenie na monitorze 15" 200x

Powiększenie na monitorze 15" 400x

Powiększenie na monitorze 15" 1000x

Powiększenie na monitorze 15" 2000x

Powiększenie na monitorze 15" 3000x

Zoom optyczny

Od 1x do 8x

Powiększenie całkowite

Od 100x do 8000x

Układ optyczny do obserwacji/pomiarów

Konfokalny system optyczny z otworem

Pomiar wysokości

Zakres pomiarowy

7 mm

Rozdzielczość Z

0,005 µm

Powtarzalność σ

0,02 µm^*1

Pomiar szerokości

Rozdzielczość wyświetlacza

0,01 µm

Powtarzalność 3σ

0,05 µm^*2

Pamięć klatek

Liczba pikseli

2048 x 1536, 1024 x 768, 1024 x 64

Obraz monochromatyczny

16 bitów

Obraz kolorowy

8 bitów dla każdego RGB

Pomiar wysokości

21 bitów

Liczba klatek na sekundę

Skanowanie powierzchni

4–120 Hz

Skanowanie liniowe

7900 Hz

Funkcja automatyczna

AAG (automatyczne wzmocnienie), automatyczne ustawianie ostrości, automatyczne ustawianie górnej/dolnej granicy, ustawienia jasności podwójnego skanowania

Źródło światła lasera do pomiarów

Długość fali

Czerwony laser półprzewodnikowy, 658 nm

Maksymalna moc wyjściowa

0,95 mW

Klasa lasera

Produkt laserowy klasy 2 (IEC 60825-1, FDA (CDRH) Część 1040.10 ^*3)

Element odbierający światło lasera

PMT (Photoelectron Multiplier Tube)

Źródło światła do obserwacji optycznej

Lampa

100 W lampa halogenowa

Kamera kolorowa do obserwacji optycznej

Element obrazowy

1/3-calowa kolorowa matryca CCD

Rozdzielczość nagrywania

Superwysoka rozdzielczość (3072×2304)

Automatyczna regulacja

Wzmocnienie, szybkość migawki

Jednostka przetwarzania danych

Dedykowany komputer PC, dostarczany przez KEYENCE wraz z VK-X (OS: Windows 7 Professional Edition) ^*4

Parametry znamionowe

Napięcie zasilania

100–240 V AC ±10%, 50/60 Hz

Pobór mocy

Maks. 450 VA

Masa

Ok. 11 kg