3D Měřicí systémy
Off-line 3D měřicí systémy pro různá odvětví a aplikace.
Nabídka
Měřicí přístroje řady Wide Area CMM WM mohou snadno měřit rozměry a tvary produktů. Rozměry lze měřit kontaktní sondou a tvary laserovou snímací sondou. Bezdrátové sondy eliminují omezení kabelem a umožňují snadné měření v širokém rozsahu. Díky absenci předběžné přípravy, jako je nástřik a utěsnění, lze skenování provádět rychle a s vysokou přesností.
3D skener CMM řady VL-700 jako první na světě disponuje funkcí plně automatické konverze do CAD dat. Od skenování až po výstup souborů STEP provádí skener plně automaticky. Pro získání jednoduše zpracovatelných CAD dat tak není zapotřebí specializovaný software. Nově vyvinuté objektivy s vysokým rozlišením a senzor CMOS WDR (Wide Dynamic Range) dále nabízejí dvojnásobnou detekční schopnost oproti běžným modelům. Věrné snímání umožňuje získat přesná 3D data s informacemi o tvaru a barvě. Pomocí algoritmu porovnávání shody lze naměřená data snadno porovnat s referenčními daty a měřit jejich vzájemné rozdíly.
Optický profilometr řady VR-6000 provádí bezkontaktní měření pro nahrazení stylus profilometrů a měřičů hrubosti. Tento systém pro měření 3D profilu zaznamenává kompletní data o povrchu cíle v rozlišení 0,1 µm, což umožňuje měření, které nelze provést pomocí nástrojů sondového typu. Nové rotační skenování významně rozšiřuje systémové možnosti měření. Věrné měření průřezů lze provést bez vzniku slepých míst. Tloušťku stěn a zapuštěné oblasti lze měřit bez nutnosti řezání nebo zničení cíle. Algoritmus pro HDR skenování navíc poskytuje vylepšené možnosti skenování pro okamžité určení optimálního nastavení, díky kterému získáte vysoce kvalitní data i na lesklém a matném povrchu.
3D povrchový profilometr řady VK-X3000 využívá trojí přístup ke skenování, u kterého se podle situace použije laserová konfokální metoda, metoda s proměnlivým ohniskem nebo metoda interferometrie bílého světla, což zajišťuje vysoce přesné měření a analýzu nejrůznějších objektů. Maximální rozlišení 0,01 nm zajišťuje přesné měření odchylek tvaru v řádu nanometrů. Okamžitě můžete skenovat oblasti o velikosti až 50 × 50 mm, objekty o velikosti lidské dlaně nebo takové, které mají velké výškové rozdíly, a získat tak rychlou analýzu jak celkového tvaru, tak konkrétních oblastí. Navíc lze rychle, s vysokou přesností a na velkých oblastech měřit i obtížné materiály, například objekty s transparentními nebo zrcadlovými povrchy. Tento zbrusu nový laserový mikroskop dokáže pracovat s jakýmkoli objektem při velkém i malém zvětšení a při jakékoli drsnosti povrchu (ploché či nerovnoměrné povrchy), a to i když je povrch transparentní nebo zrcadlový.