Mikroskop s 3D laserovým skenováním
Řada VK-X3000
Jednotka pro měření tloušťky fólie spektrální metodou VK-T300
*Vezměte prosím na vědomí, že příslušenství zobrazené na obrázku je pouze ilustrativní a nemusí být součástí produktu.
Mikroskop s 3D laserovým skenováním
Řada VK-X3000
*Vezměte prosím na vědomí, že příslušenství zobrazené na obrázku je pouze ilustrativní a nemusí být součástí produktu.