Mikroskop s 3D laserovým skenováním
Řada VK-X3000
Mikroskop s 3D laserovým skenováním Řada VK-X3000
Vestavěný interferometr s bílým světlem umožňuje měřit v rozsahu od nanometrů po milimetry bez slepých míst
- Maximální rozlišení 0,01 nm
3D povrchový profilometr řady VK-X3000 využívá trojí přístup ke skenování, u kterého se podle situace použije laserová konfokální metoda, metoda s proměnlivým ohniskem nebo metoda interferometrie bílého světla, což zajišťuje vysoce přesné měření a analýzu nejrůznějších objektů. Maximální rozlišení 0,01 nm zajišťuje přesné měření odchylek tvaru v řádu nanometrů. Okamžitě můžete skenovat oblasti o velikosti až 50 × 50 mm, objekty o velikosti lidské dlaně nebo takové, které mají velké výškové rozdíly, a získat tak rychlou analýzu jak celkového tvaru, tak konkrétních oblastí. Navíc lze rychle, s vysokou přesností a na velkých oblastech měřit i obtížné materiály, například objekty s transparentními nebo zrcadlovými povrchy. Tento zbrusu nový laserový mikroskop dokáže pracovat s jakýmkoli objektem při velkém i malém zvětšení a při jakékoli drsnosti povrchu (ploché či nerovnoměrné povrchy), a to i když je povrch transparentní nebo zrcadlový.
Vlastnosti
Základní charakteristika
Pozorování
Rozsáhlé pokrytí rozsahu zvětšení v jednom přístroji
- Zvětšení 42× až 28800×
- Automatické zaostření
- Pozorování libovolného materiálu
Měření
Okamžité, bezkontaktní měření povrchu
- Bez poškození cílového objektu
- Přesná měření na nanoúrovni
- Kompatibilní s jakýmkoli tvarem nebo materiálem
Analýza
Jedinečná charakterizace povrchu
- Kvantifikace i těch nejdetailnějších tvarů
- Snadné rozlišení povrchů
- Analýza drsnosti
Díky trojímu přístupu ke skenování dokáže změřit cokoli
K dispozici jsou tři různé metody skenování: laserové konfokální, s proměnlivým ohniskem a pomocí interferometrie bílého světla. Volba nejlepší metody pro materiál a tvar objektu a rozsah měření zajišťuje vysokou přesnost měření.
Maximální rozlišení 0,01 nm
Odchylky tvaru můžete přesně měřit v řádu nanometrů.
Navíc lze rychle, s vysokou přesností a na velkých oblastech měřit i obtížné materiály, například objekty s transparentními nebo zrcadlovými povrchy.
Je možné měřit velké oblasti a nerovnoměrné povrchy s obrovskými výškovými rozdíly
Okamžitě můžete skenovat oblasti o velikosti až 50 × 50 mm, objekty o velikosti lidské dlaně nebo takové, které mají velké výškové rozdíly, a získat tak rychlou analýzu jak celkového tvaru, tak konkrétních oblastí.
Měří ploché a nerovnoměrné povrchy při velkém i malém zvětšení
Účinnost měření umožňuje pozorovat rozmanité objekty.
