Mikroskope

Mikroskopiesysteme für vielfältige Industrie- und Life-Science-Anwendungen.

Produktpalette

Modellreihe VHX-X1 - Digitalmikroskop

Dieses System bietet einen 4K-CMOS-Sensor für eine hohe Auflösung und ist darüber hinaus mit 4K-kompatiblen Objektiven ausgestattet. Zudem ermöglicht der Advanced Optical Shadow Effect Mode die Visualisierung feinster Oberflächendetails. Die Bedienung erfolgt intuitiv über die Konsole, sodass selbst unerfahrene Benutzer schnell und einfach präzise Betrachtungen vornehmen können. Diese Modellreihe ist individuell konfigurierbar und bietet Anwendern ein breites Spektrum an Mess- und Analysefunktionen. Neben dem optischen Abgleich zur automatisierten Erkennung von Unterschieden ermöglicht das Digitalmikroskop VHX-X1 dank eines 300 mm-Objekttischs einen sehr großen Betrachtungs- und Messbereich. Zudem stehen dank eines hochauflösenden Revolverobjektivs vielfältige metallurgische Analysen zur Verfügung.

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Modellreihe EA-300 - Laserbasierte Materialanalyse-Einheit

Neue laserbasierte Materialanalyse-Einheit für Mikroskope der Modellreihe VHX. Legen Sie das Objekt für die Materialanalyse einfach auf den Objekttisch, ohne vorherige Präparation. Leitfähigkeitsbearbeitung, Zuschneiden des Objekts, sowie Vakuum sind nicht notwendig. KI-basierte Vorschläge ermöglichen es auch unerfahrenen Anwendern, Substanzen mittels einer einfachen und schnellen Materialanalyse zu erkennen.

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Modellreihe VK-X3000 - 3D Laserscanning-Mikroskop

Das 3D Laserscanning-Mikroskop der Modellreihe VK-X3000 verwendet drei verschiedene Messprinzipien in einem Gerät vereint, je nach Anwendungsfall können ein konfokaler Laser, Fokusvariation und Weißlichtinterferometrie zum Einsatz kommen. Dies ermöglicht die Durchführung hochpräziser Messungen und Analysen verschiedener Messobjekte mit einer maximalen Auflösung von 0,01 nm. Eine schnelle Erfassung von Messbereichen bis zu 50 × 50 mm, selbst bei handtellergroßen Messobjekten oder solchen mit großen Höhenunterschieden, ist möglich. Dies ermöglicht eine schnelle Analyse sowohl der Gesamtform als auch spezifischer Bereiche. Auch schwierige Materialien, wie beispielsweise mit transparenten und spiegelnden Oberflächen, können schnell, mit hoher Genauigkeit und großflächig gemessen werden. Dieses 3D Laserscanning-Mikroskop kann Messobjekte unabhängig von der Vergrößerung, Oberflächenrauheit und -beschaffenheit (transparenten/spiegelnde Oberflächen) messen.

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