Profilometer
Das 3D-Profilometer ist ein schnelles, hochpräzises Profilmesssystem, welches Oberflächen optisch in nur einer Sekunde erfasst. Die Modellreihe VR verfügt über Funktionen z.B. die automatische Breiten- und Höhenerkennung eines Messobjekts. Ein einziger Klick genügt und es kann eine Messfläche von 300 mm x 150 mm x 70 mm in 3D erfasst werden. Anschließend können Kontur-, Ebenheits-, Rauheitsmessungen u.v.m. durchgeführt werden.
Produktpalette
Das 3D-Profilometer der Modellreihe VR-6000 ist ein schnelles, hochpräzises 3D-Profilmesssystem, welches Oberflächen optisch innerhalb einer Sekunde mit einer Auflösung von 0,1 µm erfasst. Selbst matte sowie glänzende Oberflächen können dank des HDR-Erfassungsalgorithmus erfasst werden. Anschließend können u.a. Kontur-, Ebenheits-, Rauheitsmessung, Form- und Lagetoleranzen u.v.m. durchgeführt werden. Des Weiteren verfügt das 3D-Profilometer Funktionen wie beispielsweise die automatische Breiten- und Höhenerkennung eines Messobjekts. Ein einziger Klick genügt und es kann eine Messfläche von 300 mm x 150 mm x 70 mm in 3D erfasst werden. Die motorisierte Rotationseinheit hingegen ermöglicht eine Erfassung des gesamten Messobjekts, sodass keine toten Winkel entstehen. Zusätzlich wird dabei die Querschnittsform präzise reproduziert. Wandstärken wie auch Abmessungen von Flächen sind ab sofort ohne Vorbereitung darstellbar und können im Nachhinein einfach und präzise gemessen werden.
Merkmale
Erweiterter Anwendungsbereich durch Rotationseinheit und HDR-Erfassungsalgorithmus
HDR-Erfassungsalgorithmus ermöglicht die Messung von unterschiedlichen Materialien
Durch Rotationserfassung entstehen keine toten Winkel
Benutzerfreundliche Messfunktionen
Hochpräzise 3D-Messung der gesamten Oberfläche innerhalb einer Sekunde mit einer Auflösung von 0,1 µm
Durchführung zahlreicher Messungen mit nur einem System
Das 3D Laserscanning-Mikroskop der Modellreihe VK-X3000 verwendet drei verschiedene Messprinzipien in einem Gerät vereint, je nach Anwendungsfall können ein konfokaler Laser, Fokusvariation und Weißlichtinterferometrie zum Einsatz kommen. Dies ermöglicht die Durchführung hochpräziser Messungen und Analysen verschiedener Messobjekte mit einer maximalen Auflösung von 0,01 nm. Eine schnelle Erfassung von Messbereichen bis zu 50 × 50 mm, selbst bei handtellergroßen Messobjekten oder solchen mit großen Höhenunterschieden, ist möglich. Dies ermöglicht eine schnelle Analyse sowohl der Gesamtform als auch spezifischer Bereiche. Auch schwierige Materialien, wie beispielsweise mit transparenten und spiegelnden Oberflächen, können schnell, mit hoher Genauigkeit und großflächig gemessen werden. Dieses 3D Laserscanning-Mikroskop kann Messobjekte unabhängig von der Vergrößerung, Oberflächenrauheit und -beschaffenheit (transparenten/spiegelnde Oberflächen) messen.
Merkmale
Grundlegende Eigenschaften
Betrachtung
Großer Vergrößerungsbereich mit nur einem System
- Vergrößerung 42× bis 28.800×
- Automatische Fokussierung
- Betrachten beliebiger Materialien
Messung
Schnelle, berührungslose Oberflächenerfassung
- Keine Beschädigung der Messobjekte
- Präzise Messung im Nanometerbereich
- Für jede Form geeignet und materialunabhängig
Analyse
Vielseitige Oberflächenanalyse
- Quantifizierung der Oberflächenstruktur
- Vergleich mehrerer Messobjekte
- Rauheitsanalyse
Triple Principle Integrated
Es stehen drei verschiedene Messmethoden zur Verfügung: konfokaler Laser, Fokusvariation und Weißlichtinterferometrie. Die Auswahl der geeigneten Messmethode für das Material und den Messbereich des Objekts gewährleistet eine hochpräzise Auswertung.