Platzierung und Überlappung von ICs

Die Modellreihe LJ-X8000 misst über einen großen Bereich mit hoher Genauigkeit, sodass mit einem einzigen Scanvorgang mehrere ICs auf falschen und überlappenden Sitz geprüft werden können. Eine genaue und stabile Prüfung ist möglich, da die Beurteilung auf Höhendaten basiert.

2D/3D Laser-Profilsensor

Modellreihe LJ-X8000

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