3D lézeres, konfokális pásztázó mikroszkóp
VK-X3000 sorozat
3D lézeres, konfokális pásztázó mikroszkóp VK-X3000 sorozat
Az érintésmentes profilmérő nanométeres felbontással képes az érdesség, a felület és a filmvastagság mérésére.
Jellemzők
- Nanométeres, mikrométeres és milliméteres mérések egyetlen rendszerben
- Kiemelkedő mérési teljesítmény a triplaszkenneres megközelítésnek köszönhetően
- Fejlett fóliavastagság, vékony fólia és vastagságmérés