Meet alles met de drievoudige scanaanpak

Er zijn drie verschillende scanmethoden beschikbaar: confocale laser, focusvariatie en wit licht interferometrie. Afhankelijk van het doelmateriaal, de vorm en het meetbereik wordt de beste methode gekozen, wat uiterst nauwkeurige metingen oplevert.

Wit licht interferometrie
Confocale laser
Focusvariatie

Maximumresolutie van 0,01 nm

Vormvariaties op nanometerniveau kunnen nauwkeurig worden gemeten.
Zelfs lastige materialen zoals materiaal met transparante en spiegelende oppervlakken, kunnen snel worden gemeten, met hoge precisie en over grote gebieden.

Meet grote gebieden en ongelijkmatige oppervlakken met grote hoogteverschillen

Scant direct gebieden van maar liefst 50 × 50 mm, zelfs bij doelen van handpalmformaat of met grote hoogteverschillen, voor een snelle analyse van de algehele vorm en specifieke gebieden.

Meet platte en ongelijkmatige oppervlakken bij lage en hoge vergrotingen

Meetprestaties voor de waarneming van uiteenlopende doelen

Bekijk meer informatie in de catalogus

U kunt ons tevens telefonisch bereiken op het nummer. +32 (0) 15 281 222/+31 (0) 40 20 66 100