Systemy pomiarowe 3D
Systemy pomiarowe 3D off-line dla różnych branż i zastosowań.
Asortyment
Szerokopasmowe urządzenia CMM z serii WM pozwalają łatwo mierzyć wymiary i kształty produktów. Do mierzenia wymiarów służy sonda kontaktowa, natomiast kształty mierzy się sondą laserową. Sondy bezprzewodowe eliminują ograniczenia związane z układaniem przyrządu, umożliwiając łatwe pomiarowanie w szerokim zakresie. Przed rozpoczęciem skanowania nie trzeba wstępnie przygotowywać powierzchni na przykład poprzez spryskanie czy uszczelnienie, więc cała operacja odbywa się szybko, a pomiar jest dokładny.
Skaner 3D CMM z Seria VL-800 to pierwsze urządzenie w tej rodzinie wyposażone w technologię trójwymiarowego obrazowania wspomaganego sztuczną inteligencją — 3D-AI. Dzięki wsparciu sztucznej inteligencji każdy użytkownik może łatwo pozyskać wysokiej jakości dane 3D. Mechanizm zastosowany w skanerze ma funkcję niespotykaną dotąd w żadnym rozwiązaniu na rynku: sugerowanie analiz. Jej działanie polega na tym, że aparat SI podpowiada metodę pomiaru optymalną dla danego kształtu części. Ponadto porównanie skanu części z danymi 3D CAD pozwala w sposób zrozumiały zwizualizować odkształcenia i wypaczenia. Wreszcie pozyskane dane 3D ze względu na wysoką jakość nadają się świetnie do inżynierii wstecznej.
Optyczny profilometr 3D ze sterowaniem jednym przyciskiem Seria VR-6000 umożliwia bezkontaktowy pomiar w celu zastąpienia mierników chropowatości i profilometrów stykowych. Ten system pomiaru profilu 3D rejestruje całą powierzchnię z rozdzielczością 0,1 µm, pozwalając na pomiar detali, które nie mogą być zmierzone przyrządami typu sonda. Niedawno wprowadzony automatyczny moduł obrotowy sprawia, że pomiary są niezwykle proste. Obracanie próbki podczas pomiaru pozwala na wierne odwzorowanie przekroju poprzecznego bez martwych punktów oraz pomiar grubości i głębokości ściany bez konieczności cięcia. Dodatkowo algorytm skanowania HDR zapewnia ulepszone możliwości skanowania do natychmiastowego określania najlepszych warunków do dokładnego pomiaru profilu nawet w przypadku detali błyszczących i wykonanych z materiału o niskiej refleksyjności , które są trudne do zmierzenia przy pomocy optycznych systemów pomiaru profilu. Skanuj detale z zakresem dynamiki 1000 razy szerszym niż w przypadku modelów konwencjonalnych.
Konfokalny mikroskop do skanowania laserowego 3D Seria VK-X3000 wykorzystuje zasadę potrójnego skanowania, wybierając optymalną metodę w zależności od sytuacji — laserowy pomiar konfokalny, zmiana ostrości lub interferometria z użyciem światła. Zapewnia to wysoce precyzyjne pomiary i pozwala na analizowanie różnych obiektów. Maksymalna rozdzielczość 0,01 nm umożliwia precyzyjny pomiar zmian kształtu z dokładnością do nanometrów. Błyskawiczne skanowanie obszarów o powierzchni aż 50 × 50 mm, w tym także obiektów drobnych i z dużymi różnicami wysokości w celu szybkiej analizy ogólnego kształtu i konkretnych obszarów. Ponadto rozwiązanie umożliwia szybki, wysoce precyzyjny i obejmujący duży obszar pomiar trudnych materiałów z powierzchniami przezroczystymi lub odbijającymi światło. Ten zupełnie nowy mikroskop laserowy obsługuje każdy obiekt niezależnie od stopnia powiększenia (dużego lub małego), nierówności powierzchni (płaskie lub nierówne) i rodzaju powierzchni (przezroczyste lub odbijające światło).