Konfokalny mikroskop do skanowania laserowego 3D

Seria VK-X

Ten model został wycofany z oferty.
Zgodność ze standardem certyfikacji zapewniona jest od momentu wysyłki z naszej firmy.

Skontaktuj się z nami: +48 (0) 71 36861 60 Formularz zapytania

Jednostka pomiarowa VK-X130K

VK-X130K - Jednostka pomiarowa

*Należy pamiętać, że akcesoria przedstawione na zdjęciu służą wyłącznie do celów ilustracyjnych i mogą nie być dołączone do produktu.

Arkusz danych (PDF)

Arkusz danych (PDF)

Dane techniczne

Model		VK-X130K
Powiększenie całkowite		Do 19 200×^*1
Pole widzenia (minimalny zakres)		Od 16 do 5400 µm
Liczba klatek na sekundę	Prędkość pomiaru laserowego	4–120 Hz, 7900 Hz^*2
Pomiar wysokości	Skala liniowa	5 nm
	Powtarzalność σ	20×: 40 nm, 50×: 20 nm, 100×: 20 nm^*3
	Pamięć pomiarów na osi Z	1,4 mln kroków
	Dokładność	0,2 + L/100 µm lub lepiej^4^5
Pomiar szerokości	Rozdzielczość wyświetlacza	10 nm
	Powtarzalność 3σ	20×: 100 nm, 50×: 50 nm, 100×: 30 nm^*3
	Dokładność	±2%^*6
Konfiguracja stolika XY	Ręczny: Zakres roboczy	70 mm × 70 mm
	Napędzany: Zakres roboczy	50 × 50 mm, 100 × 100 mm^*7
Obserwacja	Maksymalna rozdzielczość rejestrowania	3072×2304
Masa	Mikroskop	Ok. 25 kg (bez głowicy czujnika, ok. 8,5 kg)
	Sterownik	Ok. 11 kg
^1 Z 23-calowym monitorem. ^2 Przy maksymalnej prędkości przy zastosowaniu kombinacji trybu pomiaru/jakości pomiaru/powiększenia obiektywu. Gdy skanowanie linii mieści się w zakresie skoku pomiarowego 0,1 µm. ^3 Podczas pomiaru skali odniesienia z 20× obiektywem (lub wyższym) w temperaturze otoczenia 20°C ± 2°C. Z wyjątkiem modelu VK-X120/X130 z obiektywem 100×. ^4 Podczas pomiaru skali odniesienia z obiektywem 20x (lub wyższym) w temperaturze otoczenia 20°C ± 2°C. W przypadku VK-X120/X130 z obiektywem 100x. ^5 L = pionowa długość pomiarowa w µm ^6 Podczas pomiaru skali odniesienia z obiektywem 20× (lub wyższym) w temperaturze otoczenia 20 ± 2°C. Z wyjątkiem modelu VK-X120/X130 z obiektywem 100×. ^*7 Ze stolikiem napędzanym.

Arkusz danych (PDF) Inne modele