Kwadratowa podstawa 300 × 200 mm Model z szeroką podstawą wyposażony w programowalny oświetlacz pierścieniowy / sondę świetlną/Dotykowy moduł pomiaru wysokości IM-8030T

IM-8030T - Kwadratowa podstawa 300 × 200 mm Model z szeroką podstawą wyposażony w programowalny oświetlacz pierścieniowy / sondę świetlną/Dotykowy moduł pomiaru wysokości

*Należy pamiętać, że akcesoria przedstawione na zdjęciu służą wyłącznie do celów ilustracyjnych i mogą nie być dołączone do produktu.

Arkusz danych (PDF)

Dane techniczne

Model				IM-8030T
Typ				Głowica
Czujnik obrazu				1" 20-megapikselowy monochromatyczny CMOS
Wyświetlacz				12,1" monitor LCD (WXGA: 1280 × 800)
Obiektyw odbiorczy				Podwójny obiektyw telecentryczny
Pomiar obrazowy	Pole widzenia	Tryb pomiarowy o szerokim polu widzenia		300 × 200 mm (4× R50)
		Tryb pomiarowy o wysokiej precyzji		225 × 125 mm
	Minimalna jednostka wyświetlacza			0,1 μm
	Powtarzalność	Tryb pomiarowy o szerokim polu widzenia	Bez ruchomej podstawy	±1 μm
			Z ruchomą podstawą	±2 μm
		Tryb pomiarowy o wysokiej precyzji	Bez ruchomej podstawy	±0,5 μm
			Z ruchomą podstawą	±1,5 μm
	Dokładność pomiaru (±2σ)	Tryb pomiarowy o szerokim polu widzenia	Bez łączenia	±3,9 μm ^*1
			Z łączeniem	±(7 + 0,02 L) μm ^*2
		Tryb pomiarowy o wysokiej precyzji	Bez łączenia	±2 μm ^*3
			Z łączeniem	±(4 + 0,02 L) μm ^*4
	Pomiar średnicy zewnętrznej	Dokładność pomiaru	Tryb pomiarowy o szerokim polu widzenia	±(2,8 + 0,02 D) μm ^*5
			Tryb pomiarowy o wysokiej precyzji	±(1,4 + 0,04 D) μm ^*6
Sonda świetlna Pomiar	Obszar mierzalny (XY)			190 × 90 mm
	Maksymalna głębokość pomiaru			30 mm
	Średnica sondy świetlnej			ø3 mm
	Siła nacisku			0,015 N
	Powtarzalność			±2 μm ^*7
	Dokładność pomiaru			±(8 + 0,02 L) μm ^*8
Moduł pomiaru wysokości	Zakres pomiarowy			od 0 do 75 mm
	Siła nacisku			0,3 N
	Dokładność pomiaru (XY)			±0,2 mm ^*9
	Minimalna jednostka wyświetlacza			1 μm
	Obszar mierzalny (XY)	Tryb pomiarowy o szerokim polu widzenia		145 × 95 mm
		Tryb pomiarowy o wysokiej precyzji		107,5 × 95 mm
	Powtarzalność			±2 μm ^*10
	Dokładność pomiaru			±7,5 μm ^*11
Zewnętrzne wejście zdalne				Wejście beznapięciowe (z lub bez kontaktu)
Wyjście zewnętrzne	OK/NG/BŁĄD/POM.			Wyjście z przekaźników PhotoMos Obciążenie znamionowe: 24 V DC 0,5 A Przy rezystancji: 50 mΩ lub niższej
Interfejs	LAN			RJ-45 (10BASE-T/100BASE-TX/1000BASE-T)
	USB 3.1			4 porty (tył: 4)
	USB 2.0 seria A			4 porty (przód: 2, tył: 2)
	Wyjście monitora			DVI-D
Nagrywanie	Dysk twardy			500 GB
System oświetlenia	Przechodzące			Telecentryczny system oświetlenia
	Pierścień			Cztery segmenty, oświetlenie wielokątowe (elektryczne), Oświetlacz szczelinowy (elektryczny)
Podstawa XY	Zakres ruchu			200 × 100 mm (napęd elektryczny)
	Nośność			7,5 kg
Podstawa Z	Zakres ruchu			75 mm (elektryczny)
Zasilanie	Napięcie zasilania			100 do 240 V AC ±10%, 50/60 Hz
	Pobór mocy			430 V A lub niższy
Odporność na warunki otoczenia	Temperatura otoczenia			+10 do 35°C
	Wilgotność względna			20 do 80% RH (bez kondensacji)
	Kategoria przepięciowa			II
	Stopień zanieczyszczenia			2
Masa				Ok. 35 kg
^1 W zakresie ø80 mm, w temperaturze otoczenia podczas pracy +23°C ±1°C i przy prawidłowej ostrości. ^2 W zakresie 280 × 180 mm (4× R40), w temperaturze otoczenia podczas pracy +23°C ±1°C, przy prawidłowej ostrości oraz przy obciążeniu podstawy wynoszącym 3 kg lub mniej. L = długość ruchu podstawy (w mm). ^3 W zakresie ø20 mm, w temperaturze otoczenia podczas pracy +23°C ±1°C i przy prawidłowej ostrości. ^4 W zakresie 220 × 120 mm, w temperaturze otoczenia podczas pracy +23°C ±1°C, przy prawidłowej ostrości oraz przy obciążeniu podstawy wynoszącym 3 kg lub mniej. L = długość ruchu podstawy (w mm). ^5 W zakresie L218 mm × ø60 mm. Przy prawidłowej ostrości, z częścią znajdującą się w środku pola widzenia obiektywu, oraz przy kierunku wału części skierowanej w kierunku poziomym pola widzenia obiektywu. W temperaturze otoczenia podczas pracy +23 ±1°C. D to odległość w kierunku Y (w mm). ^6 W zakresie L206 mm × ø20 mm. Przy prawidłowej ostrości, z częścią znajdującą się w środku pola widzenia obiektywu, oraz przy kierunku wału części skierowanej w kierunku poziomym pola widzenia obiektywu. W temperaturze otoczenia podczas pracy +23 ±1°C. D to odległość w kierunku Y (w mm). ^7 Z systemem wykrywania w pozycji standardowej. Jeśli system wykrywania znajduje się w pozycji głębokiej, ±3 μm. ^8 Z systemem wykrywania w pozycji standardowej, w temperaturze otoczenia podczas pracy +23°C ±1°C, oraz przy obciążeniu podstawy wynoszącym 3 kg lub mniej. Jeśli system wykrywania znajduje się w pozycji głębokiej, ±(10 + 0,02 L) μm, gdzie L to długość pomiaru (w mm). ^9 Temperatura otoczenia podczas pracy: +23°C ±1°C. ^10 Przy maksymalnej wysokości pomiaru wynoszącej 30 mm lub mniej. ±3 μm, gdy maksymalna wysokość pomiaru mieści się w zakresie od 30 do 75 mm. ^*11 Standardowe szkło, przy maksymalnej wysokości pomiaru wynoszącej 30 mm lub mniej. ±9,5 μm, gdy maksymalna wysokość pomiaru mieści się w zakresie od 30 do 75 mm.

Arkusz danych (PDF) Inne modele