Laserowy czujnik przemieszczenia CCD wysokiej prędkości/wysokiej precyzji

Seria LK-G3000

Katalogi Pobierz katalog

Głowica czujnika: Ultraduża odległość, szeroka wiązka LK-G507

LK-G507 - Głowica czujnika: Ultraduża odległość, szeroka wiązka

*Należy pamiętać, że akcesoria przedstawione na zdjęciu służą wyłącznie do celów ilustracyjnych i mogą nie być dołączone do produktu.

Arkusz danych (PDF)

Instrukcje

Dane CAD

Widok 360° (PDF 3D)

Oprogramowanie

  • CE Marking

Dane techniczne

Model

LK-G507

Odległość referencyjna

Odbicie rozproszone: 500 mm, odbicie zwierciadlane: 497,5 mm

Zakres pomiarowy

Odbicie rozproszone: od -250 do +500 mm, Odbicie zwierciadlane: -249 do +498 mm*1*2

Źródło światła

Typ

Czerwony laser półprzewodnikowy

Długość fali

655 nm (światło widzialne)

Klasa lasera

Klasa II (FDA CDRH 21CFR Część 1040.10), Klasa 2 (IEC60825-1)

Moc wyjściowa

0,95 mW

Średnica plamki (przy odległości referencyjnej)

Ok. 300 x 9500 µm

Liniowość

±0,05% pełnej skali (±250 µm)*3Od -250 do +250 mm
wysoki zakres dokładności: ±0,02% pełnej skali (±100 µm) od -250 do -50 mm
długi zakres: ±0,1% pełnej skali (±500 µm) -250 do +500 mm (pełna skala = ±250 mm)*4

Powtarzalność

2 µm*5

Częstotliwość próbkowania

20/50/100/200/500/1000 µs (6 poziomów do wyboru)

Wyświetlacz LED

W pobliżu środka pomiaru: Światła zielone
W obszarze pomiaru: Światła pomarańczowe
Poza obszarem pomiaru: migające światło pomarańczowe

Charakterystyka temperaturowa

0,01% pełnej skali/°C (Pełna skala=± 250 mm)

Odporność na warunki otoczenia

Stopień ochrony

IP67 (IEC60529)

Światło otoczenia

Żarówka lub lampa fluorescencyjna: maks. 5000 luksów

Temperatura otoczenia

Od 0 do +50°C

Wilgotność względna

Od 35% do 85% wilg. wzgl. (bez kondensacji)

Odporność na drgania

10–55 Hz, podwójna amplituda 1,5 mm; dla każdego z kierunków X, Y i Z przez 2 godziny

Materiał

Odlew aluminiowy

Masa

Ok. 380 g (łącznie z przewodem)

*1 Zakres uzyskuje się mierząc standardowy obiekt KEYENCE (ceramiczny).
*2 Kiedy częstotliwość próbkowania wynosi 20 µs, zakres wynosi -230 (strona bliższa) do -250 mm (strona bliższa) dla odbicia rozproszonego.
Kiedy częstotliwość próbkowania wynosi 20 µs, zakres wynosi -230 (strona bliższa) do -249 mm (strona bliższa) dla odbicia zwierciadlanego.
Kiedy częstotliwość próbkowania wynosi 50 µs, zakres wynosi -125 (strona bliższa) do -250 mm (strona bliższa) dla odbicia rozproszonego.
Kiedy częstotliwość próbkowania wynosi 50 µs, zakres wynosi -125 (strona bliższa) do -249 mm (strona bliższa) dla odbicia zwierciadlanego.
*3 Wszystkie wartości wyliczone przy pełnej skali = ±250 mm.
„Wysoki zakres dokładności” i „długi zakres” odnoszą się do liniowości, gdy te zakresy są używane.
*4 Wartość uzyskana z pomiarów standardowego obiektu KEYENCE (ceramicznego) w trybie standardowym.
*5 Wartość uśredniona z 4096 pomiarów standardowego obiektu KEYENCE (SUS) na odległość referencyjną.

Arkusz danych (PDF) Inne modele