Laserowy czujnik przemieszczenia wysokiej prędkości/wysokiej precyzji

Seria LK-G5000

Katalogi Pobierz katalog

Głowica czujnika, typu punktowego LK-H052K

LK-H052K - Głowica czujnika, typu punktowego

*Należy pamiętać, że akcesoria przedstawione na zdjęciu służą wyłącznie do celów ilustracyjnych i mogą nie być dołączone do produktu.

Arkusz danych (PDF)

Instrukcje

Dane CAD

Widok 360° (PDF 3D)

Oprogramowanie

  • CE Marking

Dane techniczne

Model

LK-H052K

Tryb montażu

Odbiciowe zwierciadlane

Odległość referencyjna

46,3mm

Zakres pomiarowy

±5,2 mm*1

Źródło światła

Typ

Czerwony laser półprzewodnikowy

Długość fali

655nm

Klasa lasera

IEC 60825-1 : Klasa 2
FDA (CDRH) część 1040.10 : Klasa II*2

Moc wyjściowa

0,95 mW

Średnica plamki (przy odległości standardowej)

ø50 µm

Liniowość

±0,02% pełnej skali (Pełna skala= 20 mm)*3

Powtarzalność

0,025 µm*4

Cykl próbkowania

2,55/5/10/20/50/100/200/500/1000 µs (9 kroków do wyboru)

Charakterystyka temperaturowa

0,01% pełnej skali (pełna skala=20 mm)

Odporność na warunki otoczenia

Stopień ochrony

IP67

Światło otoczenia

Żarówka lub lampa fluorescencyjna: maks. 10 000 luksów

Temperatura otoczenia

Od 0 do +50°C

Wilgotność względna

Od 35% do 85% wilg. wzgl. (bez kondensacji)

Odporność na drgania

10–55 Hz, podwójna amplituda 1,5 mm; dla każdego z kierunków X, Y i Z przez 2 godziny

Materiał

Odlew aluminiowy

Masa

Ok. 260 g

*1 Zakres pomiaru przy cyklu próbkowania 20 µs lub o większej wartości.
*2 Aby uzyskać więcej informacji o głowicach czujników klasy 3B, skontaktuj się z KEYENCE.
*3 Wartość uzyskana z użyciem standardowego obiektu KEYENCE (obiekt o białej powierzchni rozpraszającej światło lub o metalowej powierzchni lustrzanej, tylko w przypadku LK-H008/LK-H008W) w trybie pomiaru standardowego.
*4 Uśredniona wartość z 16 384 pomiarów w odległości referencyjnej uzyskana z użyciem standardowego obiektu KEYENCE (obiekt o białej powierzchni rozpraszającej światło lub o metalowej powierzchni lustrzanej tylko w przypadku LK-H008/LK-H008W). Wartość w nawiasie jest typowym przykładem pomiaru ze średnią obliczoną na podstawie 65 536 cykli pomiarowych i cyklem próbkowania 200 µs.

Arkusz danych (PDF) Inne modele