Mikroskopy
Zaawansowane mikroskopy do zastosowań przemysłowych oraz związanych z naukami przyrodniczymi.
Asortyment
To urządzenie jest wyposażone w przetwornik obrazu CMOS o rozdzielczości 4K i dopasowany do niego obiektyw, a dodatkowo także w funkcję wysokiego kontrastu, która pozwala dokładnie zauważyć drobne różnice niuanse stanu powierzchni. Kompleksowy system sterowania umożliwia intuicyjne wykonywanie różnych operacji. Ten całkowicie nowy system mikroskopowy obsługuje szeroki zakres zadań analitycznych, w czym pomagają różne konfigurowalne funkcje, takie jak oświetlenie (błyskawicznie i automatycznie rozpoznaje różnice), duży, 300-milimetrowy stolik (9 razy większy zasięg analizy niż w poprzednich modelach KEYENCE), oraz obiektyw rewolwerowy (wyposażony w obiektywy o wysokiej rozdzielczości nadające się do badań metalograficznych).
Ten konfigurowalny model all-in-one integruje bazowe funkcje mikroskopu VHX-X1 w zakresie obserwacji, rejestracji obrazu i pomiarów w przystępnej cenie.
Cyfrowy mikroskop 4K o wysokiej precyzji rejestrujący obrazy w wysokiej rozdzielczości oraz dane pomiarowe na potrzeby kontroli i analizy błędów za naciśnięciem jednego przycisku.
Głowica analizatora elementarnego do stosowania z mikroskopami serii VHX. Aby analizować elementy, wystarczy umieścić obiekt na stoliku, nie są wymagane niszczenie i osadzanie obiektu ani próżnia. Podpowiedzi sztucznej inteligencji umożliwiają każdemu identyfikację substancji poprzez analizę pierwiastkową.
Konfokalny mikroskop do skanowania laserowego 3D Seria VK-X3000 wykorzystuje zasadę potrójnego skanowania, wybierając optymalną metodę w zależności od sytuacji — laserowy pomiar konfokalny, zmiana ostrości lub interferometria z użyciem światła. Zapewnia to wysoce precyzyjne pomiary i pozwala na analizowanie różnych obiektów. Maksymalna rozdzielczość 0,01 nm umożliwia precyzyjny pomiar zmian kształtu z dokładnością do nanometrów. Błyskawiczne skanowanie obszarów o powierzchni aż 50 × 50 mm, w tym także obiektów drobnych i z dużymi różnicami wysokości w celu szybkiej analizy ogólnego kształtu i konkretnych obszarów. Ponadto rozwiązanie umożliwia szybki, wysoce precyzyjny i obejmujący duży obszar pomiar trudnych materiałów z powierzchniami przezroczystymi lub odbijającymi światło. Ten zupełnie nowy mikroskop laserowy obsługuje każdy obiekt niezależnie od stopnia powiększenia (dużego lub małego), nierówności powierzchni (płaskie lub nierówne) i rodzaju powierzchni (przezroczyste lub odbijające światło).