Konfokalny mikroskop do skanowania laserowego 3D
Seria VK-X3000
Konfokalny mikroskop do skanowania laserowego 3D Seria VK-X3000
Teraz wyposażony w interferometrię światła białego, mierzy od nanometrów do milimetrów
Integracja trzech zasad Laser - Interferometria w świetle białym - Kompozycja głębi
- Pomiar próbek w zakresie od nanometrów przez mikrometry do milimetrów
- Wykonywanie różnych analiz za pomocą jednego urządzenia
- Maksymalna rozdzielczość 0,01 nm
Konfokalny mikroskop do skanowania laserowego 3D Seria VK-X3000 wykorzystuje zasadę potrójnego skanowania, wybierając optymalną metodę w zależności od sytuacji — laserowy pomiar konfokalny, zmiana ostrości lub interferometria z użyciem światła. Zapewnia to wysoce precyzyjne pomiary i pozwala na analizowanie różnych obiektów. Maksymalna rozdzielczość 0,01 nm umożliwia precyzyjny pomiar zmian kształtu z dokładnością do nanometrów. Błyskawiczne skanowanie obszarów o powierzchni aż 50 × 50 mm, w tym także obiektów drobnych i z dużymi różnicami wysokości w celu szybkiej analizy ogólnego kształtu i konkretnych obszarów. Ponadto rozwiązanie umożliwia szybki, wysoce precyzyjny i obejmujący duży obszar pomiar trudnych materiałów z powierzchniami przezroczystymi lub odbijającymi światło. Ten zupełnie nowy mikroskop laserowy obsługuje każdy obiekt niezależnie od stopnia powiększenia (dużego lub małego), nierówności powierzchni (płaskie lub nierówne) i rodzaju powierzchni (przezroczyste lub odbijające światło).
Funkcje
Podstawowa charakterystyka
Obserwacja
Szeroki zakres powiększenia w jednym urządzeniu
- Powiększenie od 42× do 28800×
- Automatyczna ostrość
- Obserwacja dowolnych materiałów
Pomiar
Natychmiastowe, bezdotykowe skanowanie powierzchni
- Bez uszkodzeń próbki
- Dokładny pomiar na poziomie nano
- Kompatybilny z dowolnym kształtem lub materiałem
Analiza
Bezprecedensowa charakterystyka powierzchni
- Kwantyfikacja nawet najbardziej szczegółowych kształtów
- Łatwe rozróżnianie powierzchni
- Analiza chropowatości
Pomiar każdego obiektu metodą potrójnego skanowania
Dostępne trzy różne metody skanowania: laserowy pomiar konfokalny, zmiana ostrości oraz interferometria z użyciem światła białego. Wybór optymalnej metody do materiału i kształtu obiektu oraz zakresu pomiarowego przekłada się na wysoką precyzję pomiarów.
Maksymalna rozdzielczość 0,01 nm
Zmiany kształtu można precyzyjnie mierzyć w rozdzielczości nanometrycznej.
Ponadto rozwiązanie umożliwia szybki, wysoce precyzyjny i obejmujący duży obszar pomiar trudnych materiałów z powierzchniami przezroczystymi lub odbijającymi światło.
Pomiar dużych obszarów i nierównych powierzchni o bardzo dużych różnicach wysokości
Błyskawiczne skanowanie obszarów o powierzchni aż 50 × 50 mm, w tym także obiektów drobnych i z dużymi różnicami wysokości w celu szybkiej analizy ogólnego kształtu i konkretnych obszarów.
Pomiar płaskich i nierównych powierzchni z dużym i małym powiększeniem
Pomiary w rozdzielczości nanometrycznej, mikrometrycznej i milimetrowej w jednym systemie.
