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Parameter der Oberflächenrauheit

Oberflächenrauheitsparameter nach DIN EN ISO 25178

  • Hoch- und Tiefpunkte in Höhenrichtung
  • Durchschnittliche Amplitude in Höhenrichtung
  • Durchschnittliche Kennlinie in Höhenrichtung
  • Horizontale Richtung
  • Hybrid
  • Fläche-Material-Verhältnis und Wahrscheinlichtkeitsdichte

Parameter-Übersicht


Höhendifferenz zwischen zwei Schnittlinien (Rδc, Pδc, Wδc)

Die Höhendifferenz zwischen zwei Schnittlinien (Zδc) zeigt die Differenz der Abschneideschwelle c der Höhentrends, die mit den beiden angegebenen Lastlängenverhältnissen übereinstimmen.

Es müssen zwei Lastlängenverhältnisse, Zmr1 und Zmr2 (Last-%) angegeben werden.


Oberflächenrauheit Parameter

Im vorliegenden Abschnitt werden die wesentlichen Parameter von ISO 4287:1997 erläutert. Jeder Parameter wird entsprechend dem Primärprofil (P), dem Rauheitsprofil(R) und dem Welligkeitsprofil (W) klassifiziert, um die unterschiedlichen Aspekte des Profils zu bewerten. (Beim Vergleich zwischen den Wellenlängen der Welligkeit und den Komponenten des Primärprofils bezieht sich die Oberflächenrauheit auf die Rauheit derjenigen Komponente mit der vergleichsweise kürzeren Wellenlänge).


Parameter-Übersicht

Hoch- und Tiefpunkte in Höhenrichtung arithmetischer Mittelwert
größte Höhe
Höhe der größten Profilspitze
Tiefe des größten Profiltales
Mittlere Höhe der Profilelemente
Gesamthöhe des Profils
Durchschnittliche Amplitude in Höhenrichtung quadratischer Mittelwert
Durchschnittliche Kennlinie in Höhenrichtung Schiefe
Steilheit
Horizontale Richtung mittlere Rillenbreite der Profilelemente
Hybrid quadratischer Mittelwert der Profilsteigung
Fläche-Material-Verhältnis und Wahrscheinlichtkeitsdichte Materialanteil
Höhendifferenz zwischen zwei Schnittlinien
relativer Materialanteil
Materialanteilkurve
Wahrscheinlichkeitsdichte der Oberflächenhöhe



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