Terminologie der Oberflächen-/Linienrauheit

Cut-off bezieht sich auf die vorbestimmte Wellenlänge, die von einem Primärprofil entfernt werden soll.Ein Rauheitsprofil entsteht, indem man die lange Wellenlängenkomponente vom Primärprofil entfernt, und ein Welligkeitsprofil entsteht, indem man die kurze Wellenlängenkomponente vom Primärprofil entfernt. Als die Messgeräte zum Messen der Oberflächenrauheit noch vom Kontakttyp waren, handelte es sich um analoge Geräte,die die Messung unter Verwendung ihres Stromkreises durchführten, der aus Kondensatoren und Widerständen bestand; üblicherweise wurden zwei dieser CR-Filter eingesetzt. Mit dem Trend zur Digitalisierung wurde jedoch in den letzten Jahren vermehrt der digitale Phasenkompensationsfilter (Gauß-Filter) eingesetzt. Bei dem für den Multi-Datei-Analyzer verwendeten Cut-off handelt es sich ebenfalls um ein Gauß-Filter.