3D meetsysteem
Off-line 3D meetsystemen voor diverse industrieën en toepassingen.
De reeks
De VL-800-reeks 3D-scanner CMM is de eerste in zijn reeks die uitgerust is met 3D-AI. Met AI-ondersteuning kan iedereen eenvoudig hoogwaardige 3D-gegevens verkrijgen. Het heeft een nieuwe functie die de eerste in zijn soort ter wereld is: analysesuggesties. Met deze functie stelt de AI de ideale meetmethode voor de vorm van het onderdeel voor. Bovendien kunt u door een onderdeelscan te vergelijken met de bijbehorende 3D CAD-gegevens vervorming en kromtrekken op een eenvoudig te begrijpen manier visualiseren. Bovendien kunnen de verkregen hoogwaardige 3D-gegevens worden gebruikt voor snelle en eenvoudige reverse engineering.
De VR-6000 3D optische profielmeter maakt contactloze metingen mogelijk ter vervanging van contour- en ruwheidstasters. Deze 3D profielmeter legt een volledig oppervlak vast met een resolutie van 0,1 µm, zodat doelen probleemloos worden gemeten die niet doormiddel van tasters kunnen worden gemeten. Dankzij de nieuwe gemotoriseerde rotatiemodule zijn de meetmogelijkheden aanzienlijk uitgebreidt. Door het monster tijdens de meting te roteren, ontstaan levensechte dwarsdoorsnedes, zonder blinde vlekken. Wanddiktes en dieptes zijn nu makkelijk te meten, zelfs voor onderdelen die normaal moesten worden doorgesneden. Daarnaast biedt het HDR-scanalgoritme verbeterde scanmogelijkheden voor het direct bepalen van de optimale omstandigheden voor een nauwkeurige profielmeting, zelfs met glanzende doelen en doelen gemaakt van laag-reflectief materiaal, dat normaal moeilijk te meten zijn met optische profielmeters. Scan doelen met een dynamisch bereik dat 1000 keer groter is dan bij conventionele modellen.
De 3D Surface Profiler VK-X3000-reeks gebruikt een drievoudige scanaanpak waarbij, afhankelijk van de situatie, scanmethoden met de confocale laser, focusvariatie of wit licht interferometrie worden gebruikt, wat resulteert in uiterst nauwkeurige metingen en analyses van uiteenlopende doelen. De maximumresolutie van 0,01 nm zorgt ervoor dat vormvariaties op nanometerniveau nauwkeurig kunnen worden gemeten. Scant direct gebieden van maar liefst 50 × 50 mm, zelfs bij doelen van handpalmformaat of met grote hoogteverschillen, voor een snelle analyse van de algehele vorm en specifieke gebieden. Zelfs lastige materialen zoals materiaal met transparante en spiegelende oppervlakken, kunnen snel worden gemeten, met hoge precisie en over grote gebieden. Deze gloednieuwe laserscanmicroscoop kan elk doel meten, ongeacht de vergroting (hoog of laag), de oppervlakteruwheid (platte/ongelijkmatige oppervlakken) en transparante/spiegelende oppervlakken.