Profielmeter
Door de kenmerken van het doel vast te leggen als oppervlak kunnen 3D-objecten direct worden gemeten over een breed gebied. Dit contactloze ruwheids- en profielmeetsysteem kan niet alleen de oppervlakteruwheid meten, maar ook bramen en andere microscopische vormen en dat binnen 1 seconde. Instellingen zoals gevoeligheid worden automatisch bepaald op basis van de hoogte, de grootte, het materiaal en de kleur van het doel. Op die manier worden meetfouten geëlimineerd, wordt er tijd bespaard en kunnen onervaren gebruikers meteen beginnen met het vastleggen van gegevens.
Producten
De VR-6000 3D optische profielmeter maakt contactloze metingen mogelijk ter vervanging van contour- en ruwheidstasters. Deze 3D profielmeter legt een volledig oppervlak vast met een resolutie van 0,1 µm, zodat doelen probleemloos worden gemeten die niet doormiddel van tasters kunnen worden gemeten. Dankzij de nieuwe gemotoriseerde rotatiemodule zijn de meetmogelijkheden aanzienlijk uitgebreidt. Door het monster tijdens de meting te roteren, ontstaan levensechte dwarsdoorsnedes, zonder blinde vlekken. Wanddiktes en dieptes zijn nu makkelijk te meten, zelfs voor onderdelen die normaal moesten worden doorgesneden. Daarnaast biedt het HDR-scanalgoritme verbeterde scanmogelijkheden voor het direct bepalen van de optimale omstandigheden voor een nauwkeurige profielmeting, zelfs met glanzende doelen en doelen gemaakt van laag-reflectief materiaal, dat normaal moeilijk te meten zijn met optische profielmeters. Scan doelen met een dynamisch bereik dat 1000 keer groter is dan bij conventionele modellen.
Kenmerken
Roterend scannen op een breed scala aan materialen
HDR-scanalgoritme maakt het meten van meerdere materialen mogelijk
Roterende beeldkoppeling voor metingen zonder blinde vlekken
Meet bijna elke callout met één apparaat
Uiterst nauwkeurige 3D-oppervlaktemeting in slechts 1 seconde met een resolutie van 0,1 µm
Consolideer meerdere meetsystemen in één apparaat
De 3D Surface Profiler VK-X3000-reeks gebruikt een drievoudige scanaanpak waarbij, afhankelijk van de situatie, scanmethoden met de confocale laser, focusvariatie of wit licht interferometrie worden gebruikt, wat resulteert in uiterst nauwkeurige metingen en analyses van uiteenlopende doelen. De maximumresolutie van 0,01 nm zorgt ervoor dat vormvariaties op nanometerniveau nauwkeurig kunnen worden gemeten. Scant direct gebieden van maar liefst 50 × 50 mm, zelfs bij doelen van handpalmformaat of met grote hoogteverschillen, voor een snelle analyse van de algehele vorm en specifieke gebieden. Zelfs lastige materialen zoals materiaal met transparante en spiegelende oppervlakken, kunnen snel worden gemeten, met hoge precisie en over grote gebieden. Deze gloednieuwe laserscanmicroscoop kan elk doel meten, ongeacht de vergroting (hoog of laag), de oppervlakteruwheid (platte/ongelijkmatige oppervlakken) en transparante/spiegelende oppervlakken.
Kenmerken
Basiskenmerken
Waarneming
Uitgebreid vergrotingsbereik in één apparaat
- Vergroting 42x tot 28.800x
- Automatische scherpstelling
- Bekijk elk materiaal
Meting
Directe, contactloze oppervlaktescans
- Geen schade aan het doel
- Nauwkeurige meting op nanoniveau
- Compatibel met elke vorm of materiaal
Analyse
Ongekende kenmerking van oppervlaktes
- Kwantificering, zelfs van de meest gedetailleerde vormen
- Gemakkelijk onderscheid maken tussen oppervlakken
- Ruwheidsanalyse
Meet alles met de drievoudige scanaanpak
Er zijn drie verschillende scanmethoden beschikbaar: confocale laser, focusvariatie en wit licht interferometrie. Afhankelijk van het doelmateriaal, de vorm en het meetbereik wordt de beste methode gekozen, wat uiterst nauwkeurige metingen oplevert.