Omgekeerde microscopen

Wat is een omgekeerde microscoop?

Een omgekeerde microscoop is een microscoop waarbij de objectieflens onder het podium is geplaatst waarop het monster zich bevindt, zodat het monster van onderaf kan worden bekeken.

Dit type microscoop wordt gebruikt voor waarneming bij hogere vergrotingen dan stereoscopische microscopen, met vergrotingen van ongeveer 20 tot 1500 x.

Structuur van omgekeerde microscopen

Omgekeerde microscopen maken gebruik van een schuin lichtpad naar het oculair, waardoor waarneming in dezelfde houding mogelijk is als bij een conventionele microscoop.

Vanwege de langere optische weg gebruiken omgekeerde microscopen een optisch systeem dat het primaire beeld van het objectief naar het oculair overbrengt.

Lichtbaan in een omgekeerde microscoop
A
Lichtbron
B
Condenserlens
C
Fasecontrastlens
D
Waarnemingsmonster
E
Objectief
F
Beeldvormingslens

Toepassingen van omgekeerde microscopen

Omgekeerde microscopen worden vaak gebruikt op medisch en biologisch gebied, waar waarneming van cellen in kweekschalen (petrischalen) van onderaf vereist is.

In de industrie worden omgekeerde microscopen gebruikt om metalen materialen te bekijken, die eenvoudig kunnen worden gefixeerd en scherpgesteld door het materiaal met een gepolijst oppervlak naar beneden te plaatsen.

Het ontbreken van een objectief boven het podium maakt het ook mogelijk om grote, zware monsters te observeren.

Redenen om een digitale microscoop uit de VHX-reeks te gebruiken

De lange waarnemingsafstand en de grote scherptediepte maken het mogelijk om met het gehele beeld op het scherm in focus waar te nemen, zowel bij lage als hoge vergroting.

Hierdoor hoeft het doel niet te worden versneden of gepolijst. (Niet-destructieve waarneming is mogelijk.)

Gekantelde waarneming van een connector (kop)
5 x
40 x

Optical Shadow Effect-modus en de 4K-camera maken beeldvorming met hoge resolutie mogelijk.

Waarneming van vertind oppervlak
2500 x, normaal beeld
Beeld in de Optical Shadow Effect-modus
Waarneming van een gebroken oppervlak (radiaal patroon)
40 x normaal beeld
Beeld in de Optical Shadow Effect-modus

Met de standaardfuncties van de meetmicroscoop kunnen vlakken en 3D-profielen worden gemeten.

Sferoïdisatiepercentage van grafiet
100 x, voor de meting
Na de meting
Connectorprofielmeting
50 x, 3D-beeld
Beeld van 3D-meting

INDEX