Inverz mikroszkópok

Mit nevezünk inverz mikroszkópnak?

Az inverz mikroszkóp olyan mikroszkóp, amelynek objektívlencséje a mintát tartó tárgyasztal alatt helyezkedik el, lehetővé téve a minta alulról történő megfigyelését.

Ezt a mikroszkóptípust a sztereoszkópikus mikroszkópoknál nagyobb nagyítású megfigyelésre használják; a nagyítás körülbelül 20 és 1500x között mozog.

Az inverz mikroszkóp felépítése

Az inverz mikroszkópok meghajlított fényutat használnak az okulárhoz, lehetővé téve a hagyományos mikroszkóphoz hasonló testtartásban történő megfigyelést.

A hosszabb optikai út miatt az inverz mikroszkópok olyan optikai rendszert használnak, amely az elsődleges képet az objektívlencsétől az okulárhoz továbbítja.

A fény útja egy inverz mikroszkópban
A
Fényforrás
B
Okulár
C
Kondenzor lencse
D
Megfigyelt minta
E
Objektívlencse
F
Fáziskontraszt lencse

Az inverz mikroszkóp alkalmazási lehetőségei

Az inverz mikroszkópokat gyakran használják orvosi és biológiai területen, ahol a tenyésztőedényekben (Petri-csészékben) lévő sejtek alulról történő megfigyelésére van szükség.

Ipari környezetekben az inverz mikroszkópokat fémes anyagok megfigyelésére használják, amelyek könnyen rögzíthetők és fókuszálhatók, egyszerűen úgy, hogy az anyagot polírozott felülettel lefelé fordítva helyezik el.

A tárgyasztal feletti objektívlencse nélkül lehetővé válik a nagy méretű, nehéz minták megfigyelése is.

Mikor használhatók a VHX sorozatú digitális mikroszkópok?

A nagy megfigyelési távolság és a nagy mélységélesség lehetővé teszi, hogy a képernyőn megjelenő teljes kép fókuszban legyen, akár kis, akár nagy nagyításról van szó.

Ennek köszönhetően nincs szükség a céltárgy felvágására vagy polírozására. (Roncsolásmentes vizsgálat lehetséges.)

Egy csatlakozó döntött vizsgálata (érintkezősor)
40×

Az optikai árnyékhatás üzemmód és a 4K kamera nagy felbontású képalkotást tesz lehetővé.

Ónozott felület megfigyelése
2500×, normál kép
Optikai árnyékhatás üzemmód képe
Töredezett felület megfigyelése (sugárirányú mintázat)
40×, normál kép
Optikai árnyékhatás üzemmód képe

A standard felszereltségben kínált mérőmikroszkóp funkciók lehetővé teszik a síkok és 3D profilok mérését.

Grafitgömbösödési sebesség mérése
100×, mérés előtt
Mérés után
Csatlakozó profilmérése
50×, 3D-s kép
3D-s mérés képe

TARTALOMJEGYZÉK