Metallurgiai mikroszkóp

Mit nevezünk metallurgiai mikroszkópnak?

Speciális mikroszkóp, amelyet fém céltárgyak (metallurgiai minták) keresztmetszeteinek vizsgálatára terveztek. A jellemzően invertált metallurgiai mikroszkópok nagyon rövid munkatávolságú, nagy felbontású objektívlencséket tartalmaznak. Bár ezek a rendszerek jól működnek ennél a típusú vizsgálatnál, nagyon korlátozott az alkalmazási területük.

Metallurgiai mikroszkópok részei és funkciói

A metallurgiai mikroszkóp fő komponense az optikai rendszer és a megvilágítási rendszer. Az optikai rendszer jellemző részei:

  • Okulárlencse, melynek segítségével a vizsgáló a képet látja
  • Relérendszer, amely visszatükrözi és nagyítja a képet
  • Objektívlencse, amely a tárgyasztalra helyezett mintáról a képet adja

A megvilágítási rendszert úgy tervezték, hogy megakadályozza a minta felületének csillogását, és a következőkből áll:

  • Nagy intenzitású fényforrás
  • Kondenzor lencsék
  • Apertúra-membrán
  • Síküveg fényvisszaverő
  • Színes vagy polarizáló szűrők

Egyes esetekben a metallurgiai mikroszkópok okulárjára kamera csatlakozik, amivel a képeket a további vizsgálatokhoz rögzíteni lehet.

Metallurgiai mikroszkópok felhasználása

Legyen szó optikai vagy digitális típusokról, a metallurgiai mikroszkópokat gyakorlatilag bármely iparágban vagy tudományterületen lehet alkalmazni, ha fényes fémfelületeket kell vizsgálni. Ide tartozik a metallurgia, az ásványtan és a gemmológia. A gyártók digitális vagy optikai metallurgiai mikroszkópokkal vizsgálják az anyagokat és komponenseket, hogy látható-e rajtuk hiba vagy kopás.

A VHX digitális mikroszkóp előnyei metallurgiai mikroszkópként

1. Teljes fókusz - Éles fókusz a teljes céltárgyon

A digitális mikroszkópok nagy mélységélességet képesek elérni, ami lehetővé teszi még a nagyon egyenetlen felületű céltárgyak pontos megfigyelését is.
Ez a fajta vizsgálat nagy mértékben segít csökkenteni a fókusz beállításához szükséges időt.

2. Szemcsestruktúra - Fémfelületeken lévő szemcsék struktúrájának és méretének gyors elemzése

A kristályszemcsék alakjától, méretétől, eloszlásától stb. függően még ugyanazon fémek is különböző mechanikai tulajdonságokkal rendelkezhetnek. Ezért a mechanikai tulajdonságokat a kristályszemcsék állapotának vizsgálatával lehet meghatározni.

3. Automatikus területmérés - Akár 29 999 részecske automatikus számlálása

A VHX sorozat automatikus területmérési funkciójával az elemzési feladatok hatékonyabban végezhetők el. A képeket és a mérési eredményeket Microsoft Excel jelentésbe lehet exportálni egyetlen gombnyomással.

4. Rugalmasság & kézi üzemmód - Megtekintés bármilyen szögből, akár kézi üzemmódban is, nehogy bármilyen részlet kimaradjon

A digitális mikroszkópok változtatható szögű megfigyelési funkciójával többféle szögből, szabadon lehet megfigyelést végezni anélkül, hogy a céltárgyat billenteni kellene. A VHX sorozat egyszerű, kézi üzemmódos megfigyelést is kínál. Ez azt jelenti, hogy nagyobb céltárgyak esetén a vizsgálathoz szükséges idő jelentősen lecsökken.

5. 2D-s & 3D-s mérés - Végezzen fejlett mérést és elemzést

Végezzen egyszerűen 2D-s és 3D-s méréseket. Egyetlen eszközzel elvégezhető az érdességmérés, tisztaságvizsgálat, szemcseméret-vizsgálat és egyéb mérések. Az adatokat el lehet menteni, és a későbbi mérések során hozzáférni. Továbbá az ingyenes kommunikációs szoftver lehetővé teszi, hogy bárki a saját számítógépén használja a mérési funkciókat.

6. 2D-s & 3D-s összetűzés - 2D/3D képösszetűzés és érdességmérés

A digitális mikroszkópok teljesen fókuszált 3D-s megjelenítésre képesek egyetlen gombnyomásra.
A három dimenziós adatok rögzítése mozgó tárgyasztal mellett történik, és folyamatos a képek rögzítése is, ami átfogó nézetet biztosít a céltárgyról. A felületi érdesség méréséhez a felhasználóknak csupán egy profilvonalat kell rajzolniuk bárhová.

7. Optikai árnyékhatás üzemmód - Az SEM-ek képeivel vetekedő képek

A nagy felbontású HR lencsét, 4K CMOS képérzékelőt és megvilágítási technológiát magában foglaló speciális kialakítás révén a KEYENCE egy vadonatúj mikroszkópiai módszert fejlesztett ki. A felületen lévő legapróbb részletek is észlelhetők a többirányú megvilágítással rögzített kép kontrasztjának elemzésével.

8. Fejlett megvilágítás -Megvilágítás bármilyen irányból automatikusan

Egyszerűen az Optimalizálás gombot megnyomva kilenc különböző megvilágítási mód jelenik meg.
Innen gyorsan ki lehet választani azt a képet, ami a céltárgy vizsgálatához ideális.

TARTALOM